Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Research Publications in journals:
Aluminium incorporation in AlGaN/GaN heterostructures: a comparative study by ion beam analysis and X-ray diffraction
Year:2008
Research Areas
  • Electronics engineering
Information
Abstract
VER LINEA DE INVESTIGACIÓN DEL GRUPO
International
Si
JCR
Si
Title
THIN SOLID FILMS
ISBN
0040-6090
Impact factor JCR
1,693
Impact info
Volume
516
Journal number
0
From page
8147
To page
8452
Month
ENERO
Ranking
Participants
  • Autor: A.F BRAÑA
  • Autor: R. GAGO
  • Autor: Andres Redondo Cubero (UPM)
  • Autor: Fernando González-Posada Flores (UPM)
  • Autor: U. KREISSIG
  • Autor: Elias Muñoz Merino (UPM)
  • Autor: M-A DI FORTE POISSON
Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
S2i 2019 Observatorio de investigación @ UPM con la colaboración del Consejo Social UPM
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNCIDE 2011 (OTR-2011-0236)
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