Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Fabrication and stress relief modelling of GaN based MEMS test structures grown by MBE on Si(111)
Año:2008
Áreas de investigación
  • Industria electrónica
Datos
Descripción
RELACIONADO CON LINEA DE INVESTIGACION
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
PHYSICA STATUS SOLIDI B-BASIC SOLID STATE PHYSICS
ISSN
0370-1972
Factor de impacto JCR
1,071
Información de impacto
Volumen
5
DOI
Número de revista
0
Desde la página
1974
Hasta la página
1976
Mes
ENERO
Ranking
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: Eugenio Sillero Herrero (UPM)
  • Autor: Miguel Angel Sanchez Garcia (UPM)
  • Autor: Ana Mª Bengoechea Encabo (UPM)
  • Autor: David Lopez-Romero Moraleda (UPM)
  • Autor: Fernando Calle Gomez (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
S2i 2021 Observatorio de investigación @ UPM con la colaboración del Consejo Social UPM
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNCIDE 2011 (OTR-2011-0236)
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNPACTO (IPT-020000-2010-22)