Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Communications at congresses:
In-situ GaN decomposition analysis by quadrupole mass spectrometry and reflection high-energy electron diffraction International workshop on nitrides Semiconductors 2008, 6-10 de Octubre 2008 Montreux, (Suiza), 2008
Year:2008
Research Areas
  • Electronics engineering
Information
Abstract
RELACIONADO CON LINEA DE INVESTIGACION DEL GRUPO
International
Si
Congress
International workshop on nitrides Semiconductors 2008, 6-10 de Octubre 2008 Montreux, (Suiza), 2008
960
Place
Montreux, (Suiza), 2008
Reviewers
Si
ISBN/ISSN
0000-0000
Start Date
06/10/2008
End Date
10/10/2008
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In-situ GaN decomposition analysis by quadrupole mass spectrometry and reflection high-energy electron diffraction
Participants
  • Autor: J.S. SPECK
  • Autor: Enrique Calleja Pardo (UPM)
  • Autor: G. KOBLMÜLLER
  • Autor: Sergio Fernández Garrido (UPM)
Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
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