Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
In-situ GaN decomposition analysis by quadrupole mass spectrometry and reflection high-energy electron diffraction International workshop on nitrides Semiconductors 2008, 6-10 de Octubre 2008 Montreux, (Suiza), 2008
Año:2008
Áreas de investigación
  • Industria electrónica
Datos
Descripción
RELACIONADO CON LINEA DE INVESTIGACION DEL GRUPO
Internacional
Si
Nombre congreso
International workshop on nitrides Semiconductors 2008, 6-10 de Octubre 2008 Montreux, (Suiza), 2008
Tipo de participación
960
Lugar del congreso
Montreux, (Suiza), 2008
Revisores
Si
ISBN o ISSN
0000-0000
DOI
Fecha inicio congreso
06/10/2008
Fecha fin congreso
10/10/2008
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Título de las actas
In-situ GaN decomposition analysis by quadrupole mass spectrometry and reflection high-energy electron diffraction
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: J.S. SPECK
  • Autor: Enrique Calleja Pardo (UPM)
  • Autor: G. KOBLMÜLLER
  • Autor: Sergio Fernández Garrido (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
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