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Descripción
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| RELACIONADO CON LINEA DE INVESTIGACION DEL GRUPO | |
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Internacional
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Si |
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Nombre congreso
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International workshop on nitrides Semiconductors 2008, 6-10 de Octubre 2008 Montreux, (Suiza), 2008 |
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Tipo de participación
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960 |
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Lugar del congreso
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Montreux, (Suiza), 2008 |
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Revisores
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Si |
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ISBN o ISSN
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0000-0000 |
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DOI
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Fecha inicio congreso
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06/10/2008 |
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Fecha fin congreso
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10/10/2008 |
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Título de las actas
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In-situ GaN decomposition analysis by quadrupole mass spectrometry and reflection high-energy electron diffraction |