Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Patentes:
Sistema de medida del tiempo con alta resolución y autocalibrado basado en un dispositivo lógico programable
Año:2009
Áreas de investigación
  • Industria electrónica
Datos
Descripción
La presente invención está relacionada con la medida del tiempo con alta resolución y en particular con un sistema de medición del tiempo que asocia una etiqueta temporal a un evento asíncrono por medio de una línea de retardo tipo vernier, la cual se realiza sobre un dispositivo lógico programable (FPGA) de bajo coste. La invención tiene aplicación en generación de etiquetas temporales asociadas a un suceso no periódico. Una aplicación específica es obtención de la etiqueta temporal imprescindible para la realización de la ventana de coincidencias en tomografía por emisión de positrones.
Internacional
No
Estado
Concedida
Referencia Patente Prioritaria
P200401381
En explotación
No
Fecha solicitud
08/06/2004
Titulares aparte de la UPM
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: Pedro Guerra Gutierrez (UPM)
  • Autor: Andres de Santos Lleo (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: No seleccionado
  • Centro o Instituto I+D+i: Centro de tecnología Biomédica CTB
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
  • Grupo de Investigación: Tecnología de imágenes biomédicas
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