Memorias de investigación
Artículos en revistas:
R. CUERDO, Y. PEI, Z. CHEN, S. KELLER, S. P. DENBAARS, F. CALLE, U. K. MISHRA, "The Kink Effect at Cryogenic Temperatures in Deep Submicron AlGaN/GaN HEMTs" IEEE Electron Device Letters, 30, 209-212 (2009)
Año:2009

Áreas de investigación
  • Industria electrónica

Datos
Descripción
Relacionado con Línea de Investigación del Grupo GDS-ISOM, consultar en http://www.isom.upm.es/invdes.php
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
ISSN
0741-3106
Factor de impacto JCR
3,049
Información de impacto
Volumen
30
DOI
Número de revista
0
Desde la página
209
Hasta la página
212
Mes
ENERO
Ranking

Esta actividad pertenece a memorias de investigación

Participantes

Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ingeniería Electrónica