Descripción
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Se analiza la influencia de las pérdidas del embudo en el desplazamiento en longitud de onda inducido por temperatura en diodos láser de punto cuántico en forma de embudo con emisión a 920 nm. Se presenta una comparación entre las pérdidas del embudo medidas experimentalmente y las obtenidas mediante simulaciones numéricas con un modelo auto consistente. | |
Internacional
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Si |
JCR del ISI
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Si |
Título de la revista
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APPL PHYS LETT |
ISSN
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0003-6951 |
Factor de impacto JCR
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3,596 |
Información de impacto
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Volumen
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91 |
DOI
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Número de revista
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0 |
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Mes
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AGOSTO |
Ranking
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