Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Thermal analysis and modeling of embedded processors
Año:2010

Áreas de investigación

Datos
Descripción
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
COMPUTERS & ELECTRICAL ENGINEERING
ISSN
0045-7906
Factor de impacto JCR
0,484
Información de impacto
Volumen
36
DOI
10.1016/j.compeleceng.2009.07.001
Número de revista
1
Desde la página
142
Hasta la página
154
Mes
SIN MES
Ranking

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Participantes

Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: No seleccionado
  • Departamento: Ingeniería Electrónica