Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Robustness and noise voltage analysis in two photometer circuits
Año:2007

Áreas de investigación
  • Procesado y análisis de la señal

Datos
Descripción
---
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
IEEE SENS J
ISSN
1530-437X
Factor de impacto JCR
1,34
Información de impacto
Volumen
7
DOI
Número de revista
12
Desde la página
1668
Hasta la página
1674
Mes
SIN MES
Ranking

Esta actividad pertenece a memorias de investigación

Participantes

Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Teoría de Aproximación Constructiva y Aplicaciones
  • Departamento: Ingeniería de Circuitos y Sistemas