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Descripción
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| Trabajo relacionado con las lineas de investigación de ISOM-UPM | |
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Internacional
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Si |
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Nombre congreso
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MRS Fall Meeting 2011 |
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Tipo de participación
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960 |
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Lugar del congreso
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Boston, USA |
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Revisores
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Si |
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ISBN o ISSN
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00-0000-000-0 |
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DOI
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00000 |
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Fecha inicio congreso
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28/11/2011 |
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Fecha fin congreso
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02/12/2011 |
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Título de las actas
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Tomography of multilayered materials for optoelectronic applications |