Observatorio de I+D+i UPM
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INVESTIGADORES
ESTRUCTURAS DE I+D+I
ACTIVIDAD INVESTIGADORA
INNOVACIÓN
Investigador
Pablo Royer Del Barrio
Categoría Investigador
CONTRATADO CON CARGO A PROYECTO UPM-OTT
Escuela UPM
E.T.S. DE INGENIEROS DE TELECOMUNICACION
Departamento:
INGENIERÍA ELECTRÓNICA (N)
Area Conocimiento
SIN AREA DE CONOCIMIENTO
Grupo de Investigación:
Sin grupo de investigación
Email (Directorio UPM)
pablo.royer
upm.es
Investigador no vigente en la UPM
Datos de Memorias relacionados
Proyectos de I+D+i y generación de recursos
8 Proyectos de I+D+i
1: (2011)
DISEÑO ELECTRONICO AVANZADO: CONSULO, TEMPERATURA Y ALTAS PRESTACIONES
2: (2013)
RED ESPAÑOLA DE VARIABILIDAD EN TECNOLOGIAS, CIRCUITOS Y SISTEMAS MICRO/NANOELECTRONICOS
3: (2013)
TOLERANCIA A VARIACIONES PVT Y RADIACIÓN EN TECNOLOGÍAS NANOMETRICAS
4: (2014)
TOLERANCIA A VARIACIONES PVT Y RADIACIÓN EN TECNOLOGÍAS NANOMETRICAS
5: (2015)
RADHARQ: DESARROLLO DE TECNOLOGÍA RESISTENTE A LA RADIACIÓN PARA MICROELECTRONICA ESPACIAL
6: (2015)
TOLERA: Tolerancia a variaciones PVT y radiación en tecnologías nanométricas
7: (2016)
TOLERANCIA A VARIACIONES PVT Y RADIACIÓN EN TECNOLOGÍAS NANOMETRICAS
8: (2016)
VARIABILIDAD EN TECNOLOGIAS NANOMETRICAS: TOLERANCIA, FIABILIDAD Y APROVECHAMIENTO (TOLERA-2)
Formación de Investigadores y Movilidad
4 Estancias y sabáticos recogidos en programas oficiales
1: (2011)
Estancia en IMEC (Bélgica) tres meses Oct-Dic 2011
2: (2012)
Modelado de variabilidad en tecnologías sub-22 nm. IMEC
3: (2012)
Variability on FInFET and planar technologies below 20nm
4: (2013)
Modelado de variabilidad en tecnologías FinFET de 10 y 14 nm.
1 Tesis Doctorales
1: (2015)
Design and Simulation of Deep Nanometer SRAM Cells under Energy, Mismatch, and Radiation Constraints
Difusión de Resultados de Investigación
8 Artículos en revistas
1: (2014)
A Tool for the Automatic Analysis of Single Events Effects on Electronic Circuits
2: (2014)
Four-Injector Variability Modeling of FinFET Predictive Technology Models
3: (2014)
Using pMOS Pass-Gates to Boost SRAM Performance by Exploiting Strain Effects in Sub-20-nm FinFET Technologies
4: (2015)
Evolution of Radiation-Induced Soft Errors in FinFET SRAMs under Process Variations beyond 22nm
5: (2015)
Real-Time Low-Complexity Automatic Modulation Classifier for Pulsed Radar Signals
6: (2016)
Reconfigurable Writing Architecture for Reliable RRAM Operation in Wide Temperature Ranges.
7: (2016)
Reconfigurable Writing Architecture for Reliable RRAM Operation in Wide Temperature Ranges.
8: (2017)
Reconfigurable Writing Architecture for Reliable RRAM Operation in Wide Temperature Ranges
6 Ponencia en Congresos
1: (2011)
Area-Efficient Linear Regression Architecture for Real-Time Signal Processing on FPGAs
2: (2014)
A tool for the automatic analysis of single events effects on electronic circuits
3: (2014)
Four-injector variability modeling of FinFET predictive technology models
4: (2014)
Implementation tradeoffs of triangle traversal algorithms for graphics processing
5: (2015)
Evolution of Radiation-Induced Soft Errors in FinFET SRAMs under Process Variations beyond 22nm
6: (2015)
Evolution of Radiation-Induced Soft Errors in FinFET SRAMs under Process Variations beyond 22nm
• TOMA DE DATOS DE MEMORIAS Y CV
• UPM.ES
S2i 2022 Observatorio de investigación @ UPM con la colaboración del Consejo Social UPM
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNPACTO (IPT-020000-2010-22)
