Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
Extended method for pretilt and thickness determination in LCOS VAN displays
Año:2011
Áreas de investigación
  • Cristales liquidos
Datos
Descripción
Método extendido de predesviación y determinación de espesor de las pantallas LCOS VAN
Internacional
No
Nombre congreso
VII Reunión Española de Optoelectrónica, OPTOEL?11
Tipo de participación
960
Lugar del congreso
Santander
Revisores
Si
ISBN o ISSN
978-84-86116-31-6
DOI
Fecha inicio congreso
29/06/2011
Fecha fin congreso
01/07/2012
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Título de las actas
VII Reunión Española de Optoelectrónica, OPTOEL?11
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: Beatriz Cerrolaza Martinez (UPM)
  • Autor: Patxi Xabier Quintana Arregui (UPM)
  • Autor: Eva Otón Martínez (UPM)
  • Autor: Jose Manuel Oton Sanchez (UPM)
  • Autor: Morten Andreas Geday (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Fotónica Aplicada
  • Centro o Instituto I+D+i: Centro de Materiales y Dispositivos Avanzados para Tecnologías de Información y Comunicaciones
  • Departamento: Tecnología Fotónica y Bioingeniería
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