Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Decoupling single nanowire mobilities limited by surface scattering and bulk impurity scattering
Año:2011
Áreas de investigación
Datos
Descripción
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
ISSN
0021-8979
Factor de impacto JCR
2,064
Información de impacto
Volumen
110
DOI
10.1063/1.3611032
Número de revista
3
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0
Hasta la página
7
Mes
Ranking
33/116 PHYSICS, APPLIED (SCI)
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: d. r. khanal
  • Autor: a. x. levander
  • Autor: k. m. yu
  • Autor: z. liliental-weber
  • Autor: w. walukiewicz
  • Autor: j. grandal (UPM)
  • Autor: m. a. sanchez-garcia (UPM)
  • Autor: e. calleja (UPM)
  • Autor: j. wu
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: No seleccionado
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
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