Artículos en revistas:
Decoupling single nanowire mobilities limited by surface scattering and bulk impurity scattering
Decoupling single nanowire mobilities limited by surface scattering and bulk impurity scattering
Año:2011
Áreas de investigación
Datos
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Descripción
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Internacional
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Si |
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JCR del ISI
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Si |
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Título de la revista
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JOURNAL OF APPLIED PHYSICS |
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ISSN
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0021-8979 |
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Factor de impacto JCR
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2,064 |
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Información de impacto
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Volumen
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110 |
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DOI
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10.1063/1.3611032 |
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Número de revista
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3 |
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7 |
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Mes
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Ranking
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33/116 PHYSICS, APPLIED (SCI) |
Participantes
- Autor: d. r. khanal
- Autor: a. x. levander
- Autor: k. m. yu
- Autor: z. liliental-weber
- Autor: w. walukiewicz
- Autor:
j. grandal (UPM) - Autor: m. a. sanchez-garcia (UPM)
- Autor: e. calleja (UPM)
- Autor: j. wu
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Creador: No seleccionado
- Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
- Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
- Departamento: Ingeniería Electrónica
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