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Polarity determination by electron energy-loss spectroscopy: application to ultra-small III-nitride semiconductor nanocolumns
Polarity determination by electron energy-loss spectroscopy: application to ultra-small III-nitride semiconductor nanocolumns
Año:2011
Áreas de investigación
Datos
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Descripción
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Internacional
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Si |
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JCR del ISI
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Si |
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Título de la revista
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NANOTECHNOLOGY |
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ISSN
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0957-4484 |
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Factor de impacto JCR
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3,644 |
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Información de impacto
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Volumen
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22 |
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DOI
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10.1088/0957-4484/22/41/415701 |
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Número de revista
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41 |
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Mes
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Ranking
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17/116 PHYSICS, APPLIED (SCI); 30/219 MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY (SCI); 17/62 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY (SCI) |
Participantes
- Autor: x. kong
- Autor: j. ristic
- Autor:
m. a. sanchez-garcia (UPM) - Autor: Jose Maria Sanchez Garcia (UPM)
- Autor: e. calleja (UPM)
- Autor: a. trampert
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Creador: No seleccionado
- Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
- Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
- Departamento: Proyectos Arquitectónicos
- Departamento: Ingeniería Electrónica
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