Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
Thickness dependence of critical temperature in Mo/Au bilayers (POSTER)
Año:2011
Áreas de investigación
  • Ingenierías
Datos
Descripción
We report on the sensitivity of the superconducting critical temperature (TC) to layer thickness, as well as on TC reproducibility in Mo/Au bilayers. Resistivity measurements on samples with a fixed Au thickness (dAu) and Mo thickness (dMo) ranging from 50 to 250 nm, and with a fixed dMo and different dAu thickness are shown. Experimental data are discussed in the framework of Martinis model, whose application to samples with dAu above their coherence length is analysed in detail. Results show a good coupling between normal and superconducting layers and excellent TC reproducibility, allowing to accurately correlate Mo layer thickness and bilayer TC.
Internacional
Si
Nombre congreso
EUCAS-ISEC-ICMC 2011
Tipo de participación
960
Lugar del congreso
The Hague, Holanda
Revisores
Si
ISBN o ISSN
0000-0000
DOI
Fecha inicio congreso
18/09/2011
Fecha fin congreso
23/09/2011
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Título de las actas
Proceedings of the Workshop
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: M. Parra-Borderías 1Instituto de Ciencia de Materiales de Aragón
  • Autor: I. Fernández-Martínez Instituto de Microelectrónica de Madrid (CSIC).
  • Autor: L. Fábrega 4Institut de Ciència de Materials de Barcelona
  • Autor: A. Camón Instituto de Ciencia de Materiales de Aragón
  • Autor: O. Gil Institut de Ciència de Materials de Barcelona
  • Autor: J.L. costa-Krämer Instituto de Microelectrónica de Madrid (CSIC)
  • Autor: Raquel Gonzalez Arrabal UPM
  • Autor: J. Sesé Instituto de Nanociencia de Aragón
  • Autor: F. Briones Instituto de Microelectrónica de Madrid
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Fusión Nuclear Inercial y Tecnología de fusión
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto de Fusión Nuclear
  • Departamento: Ingeniería Nuclear