Descripción
|
|
---|---|
Estudio de estabilidad de memorias SRAM con tecnologías planar y FinFET de 14 nm | |
Internacional
|
Si |
Lugar
|
IMEC, Bélgica |
Tipo
|
Miembros en el extranjero |
Fecha inicio
|
23/09/2011 |
Fecha fin
|
23/12/2011 |