Ponencias en congresos:
Optical and structural properties of InAlN/GaN Bragg reflectors examined by transmission electron microscopy and electron energy loss spectroscopy
Optical and structural properties of InAlN/GaN Bragg reflectors examined by transmission electron microscopy and electron energy loss spectroscopy
Año:2011
Áreas de investigación
-
Ingenierías
Datos
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Descripción
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| Relacionado con línea de investigación del GDS del ISOM ver http://www.isom.upm.es/dsemiconductores.php | |
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Internacional
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Si |
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Nombre congreso
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Microscopy at the Frontiers of Science 2011 |
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Tipo de participación
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960 |
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Lugar del congreso
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Aveiro, Portugal |
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Revisores
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Si |
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ISBN o ISSN
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0000000000000 |
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DOI
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Fecha inicio congreso
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18/10/2011 |
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Fecha fin congreso
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21/10/2012 |
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Hasta la página
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Título de las actas
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Optical and structural properties of InAlN/GaN Bragg reflectors examined by transmission electron microscopy and electron energy loss spectroscop |
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Participantes
- Autor: A. Eljarrat
- Autor: Zarko Gacevic (UPM)
- Autor: Sergio Fernandez Garrido (UPM)
- Autor: Enrique Calleja Pardo (UPM)
- Autor: C. Magen
- Autor: S. Estradé
- Autor: F. Peiró
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Creador: Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
- Departamento: Ingeniería Electrónica
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