Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Accelerated life test of high luminosity AlGaInP LEDs
Año:2012
Áreas de investigación
  • Industria electrónica
Datos
Descripción
Evaluation of reliability of AlInGaP LEDs
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
Microelectronics Reliability
ISSN
0026-2714
Factor de impacto JCR
1,066
Información de impacto
Datos JCR del año 2010
Volumen
52
DOI
Número de revista
Desde la página
1853
Hasta la página
1858
Mes
SIN MES
Ranking
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: Manuel Vazquez Lopez (UPM)
  • Autor: Eduardo Nogueira Diaz (UPM)
  • Autor: J Mateos
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Semiconductores III-V
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto de Energía Solar
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