Descripción
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Se estudia la variación del ciclo de biestabilidad óptica en dispositivos láser de semiconductor con la anchura espectral de la señal óptica aplicada. | |
Internacional
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Si |
Nombre congreso
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SPIE Europe Microtechnologies for the New Millennium |
Tipo de participación
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960 |
Lugar del congreso
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Maspalomas, Gran Canaria |
Revisores
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Si |
ISBN o ISSN
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DOI
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Fecha inicio congreso
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02/05/2007 |
Fecha fin congreso
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04/05/2007 |
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Título de las actas
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