Patentes:
Método de autocalibrado en la medida precisa del tiempo
Método de autocalibrado en la medida precisa del tiempo
Año:2012
Áreas de investigación
Datos
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Descripción
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| La presente invención está relacionada con la medida de tiempo con alta resolución, y en particular con el calibrado de un sistema de medición de tiempo que asocia una etiqueta temporal a un evento asíncrono. Un ejemplo posible de aplicación consiste en la corrección del instante en el que un fotón impacta con el sistema de detección, proceso imprescindible para la detección de parejas de fotones coincidentes en tomografía por emisión de positrones. | |
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Internacional
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No |
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Estado
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Concedida |
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Referencia Patente Prioritaria
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P200601820 |
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En explotación
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No |
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Licenciatarios
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Fecha solicitud
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06/07/2006 |
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Titulares aparte de la UPM
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Participantes
- Inventor Contacto:
Pedro Guerra Gutierrez (UPM) - Inventor: Andres de Santos Lleo (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Grupo de Investigación: Tecnología de imágenes biomédicas
- Centro o Instituto I+D+i: Centro de tecnología Biomédica CTB
- Departamento: Ingeniería Electrónica
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