Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
Structural stability of SiGe nanoparticles under "in situ" electron beam irradiation in TEM
Año:2007
Áreas de investigación
  • Industria electrónica
Datos
Descripción
The structure of amorphous and crystalline SiGe nanoparticles, embedded in a dielectric medium, SiO2, and its stability under ¿in situ¿ electron beam irradiation is reported. High-resolution transmission electron microscopy and electron-diffraction pattern simulation by fast Fourier transform was used to analyze the crystal structure of the SiGe nanoparticles. Electron beam irradiation induces structural alternate order-disorder transitions in the nanoparticles. Irradiation effects are mainly associated to the electron beam flux. For irradiation flux <7 A¿cm-2 no effects are observed in the as-deposited amorphous samples, whereas in the crystallized samples, SiGe nanocrystals shows higher stability and no effects are observed for irradiation flux <50 A¿cm-2. Irradiation fluxes greater than these thresholds cause consecutive amorphous-crystalline or crystalline-amorphous structure transitions respectively for both amorphous and crystallized nanoparticles. A hexagonal structure is proposed for those nanocrystals obtained after irradiation in the as deposited amorphous samples.
Internacional
Si
Nombre congreso
Instute of Physics. Electron Microscopy and Analysis Groùp Conference 2007
Tipo de participación
960
Lugar del congreso
Glasgow, Reino Unido
Revisores
Si
ISBN o ISSN
DOI
Fecha inicio congreso
03/09/2007
Fecha fin congreso
07/09/2007
Desde la página
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Título de las actas
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Participante: C Ballesteros (Universidad Carlos III de Madrid)
  • Participante: C Kasnyinda-Malu
  • Autor: Tomas Rodriguez Rodriguez (UPM)
  • Autor: Andres Rodriguez Dominguez (UPM)
  • Participante: M I Ortiz
  • Autor: Jesus Sangrador Garcia (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Departamento: Tecnología Electrónica
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