Memorias de investigación
Research Publications in journals:
Role of surface trap states on two-dimensional electron gas density in InAlN/AlN/GaN heterostructures
Year:2012
Research Areas
Information
Abstract
International
Si
JCR
Si
Title
APPLIED PHYSICS LETTERS
ISBN
0003-6951
Impact factor JCR
3,82
Impact info
Volume
100
10.1063/1.4703938
Journal number
15
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0
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4
Month
Ranking
14/116 PHYSICS, APPLIED (SCI)
Participants
  • Autor: s. pandey
  • Autor: d. cavalcoli
  • Autor: b. fraboni
  • Autor: a. cavallini
  • Autor: t. brazzini UPM
  • Autor: f. calle UPM
Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: No seleccionado
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Departamento: Ingeniería Electrónica