Descripción
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Relacionado con líneas de investigación del GDS del ISOM http://www.isom.upm.es/investigacion.php | |
Internacional
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Si |
JCR del ISI
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Si |
Título de la revista
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Ieee Electron Device Letters |
ISSN
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0741-3106 |
Factor de impacto JCR
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2,849 |
Información de impacto
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Volumen
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33 |
DOI
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Número de revista
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11 |
Desde la página
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1610 |
Hasta la página
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1612 |
Mes
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SIN MES |
Ranking
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