Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Accelerated life test of high luminosity AlGaInP LEDs
Año:2012
Áreas de investigación
  • Tecnología electrónica y de las comunicaciones
Datos
Descripción
Specific tests to assess reliability of high luminosity AlInGaP LED for outdoor applications are needed. In this paper tests to propose a model involving three parameters: temperature, humidity and current have been carried out. Temperature, humidity and current accelerated model has been proposed to evaluate the reliability of this type of LED. Degradation and catastrophic failure mechanisms have been analyzed. Finally we analyze the effect of serial resistance in power luminosity degradation.
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
Microelectronics Reliability
ISSN
0026-2714
Factor de impacto JCR
1,167
Información de impacto
Volumen
52
DOI
Número de revista
Desde la página
1853
Hasta la página
1858
Mes
SEPTIEMBRE
Ranking
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: Eduardo Nogueira Diaz (UPM)
  • Autor: Manuel Vazquez Lopez (UPM)
  • Autor: J. Mateos
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Integración de Sistemas e Instrumentos (ISI)
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto de Energía Solar
  • Departamento: Electrónica Física
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