Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Improved Estimation of Weibull Parameters Considering Unreliability Uncertainties
Año:2012
Áreas de investigación
  • Tecnología electrónica y de las comunicaciones
Datos
Descripción
We propose a linear regression method for estimating Weibull parameters from life tests. The method uses stochastic models of the unreliability at each failure instant. As a result, a heteroscedastic regression problem arises that is solved by weighted least squares minimization. The main feature of our method is an innovative s-normalization of the failure data models, to obtain analytic expressions of centers and weights for the regression. The method has been Monte Carlo contrasted with Benard?s approximation, and Maximum Likelihood Estimation; and it has the highest global scores for its robustness, and performance.
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
Ieee Transactions on Reliability
ISSN
0018-9529
Factor de impacto JCR
1,285
Información de impacto
Volumen
61
DOI
10.1109/TR.2011.2168652
Número de revista
1
Desde la página
32
Hasta la página
40
Mes
SIN MES
Ranking
32/99 COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING (SCI); 16/48 COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE (SCI); 92/247 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: Antonio Fernandez Fernandez (UPM)
  • Autor: Manuel Vazquez Lopez (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Semiconductores III-V
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto de Energía Solar
  • Departamento: Electrónica Física
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