Memorias de investigación
Stays or Sabbaticals:
Modelado de variabilidad en tecnologías sub-22 nm. IMEC
Year:2012
Research Areas
  • Engineering
Information
Abstract
Diseño y caracterización de memorias SRAM con tolerancia a variaciones de proceso para tecnologías FinFET y planar de 10 y 14 nm.
International
Si
Place
IMEC (Bélgica)
Type
Miembros en el extranjero
Start Date
01/10/2012
End Date
31/12/2012
Participants
  • Autor: Pablo Royer Del Barrio UPM
Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: Grupo de Investigación: Laboratorio de Sistemas Integrados (LSI)
  • Departamento: Ingeniería Electrónica