Memorias de investigación
Estancias o Sabáticos:
Modelado de variabilidad en tecnologías sub-22 nm. IMEC
Año:2012
Áreas de investigación
  • Ingenierías
Datos
Descripción
Diseño y caracterización de memorias SRAM con tolerancia a variaciones de proceso para tecnologías FinFET y planar de 10 y 14 nm.
Internacional
Si
Lugar
IMEC (Bélgica)
Tipo
Miembros en el extranjero
Fecha inicio
01/10/2012
Fecha fin
31/12/2012
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: Pablo Royer Del Barrio UPM
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Laboratorio de Sistemas Integrados (LSI)
  • Departamento: Ingeniería Electrónica