Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
A Light-Weight On-Chip Monitoring Network for Dynamic Adaptation and Calibration
Año:2012
Áreas de investigación
  • Industria electrónica y electrotécnica
Datos
Descripción
Current nanometer technologies suffer within-die parameter uncertainties, varying workload conditions, aging, and temperature effects that cause a serious reduction on yield and performance. In this scenario, monitoring, calibration, and dynamic adaptation become essential, demanding systems with a collection of multi purpose monitors and exposing the need for light-weight monitoring networks. This paper presents a new monitoring network paradigm able to perform an early prioritization of the information. This is achieved by the introduction of a new hierarchy level, the threshing level. Targeting it, we propose a time-domain signaling scheme over a single-wire that minimizes the network switching activity as well as the routing requirements. To validate our approach, we make a thorough analysis of the architectural trade-offs and expose two complete monitoring systems that suppose an area improvement of 40% and a power reduction of three orders of magnitude compared to previous works.
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
IEEE Sensors Journal.
ISSN
1530-437X
Factor de impacto JCR
1,61
Información de impacto
Volumen
12
DOI
10.1109/JSEN.2011.2176485
Número de revista
6
Desde la página
1736
Hasta la página
1745
Mes
JUNIO
Ranking
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: Pablo Ituero Herrero (UPM)
  • Autor: M. Luisa Lopez Vallejo (UPM)
  • Autor: Miguel Ángel Sánchez Marcos (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Laboratorio de Sistemas Integrados (LSI)
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
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