Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Capítulo de libro:
Temperature Monitoring Issues in Nanometer CMOS Integrated Circuits
Año:2012
Áreas de investigación
  • Industria electrónica y electrotécnica,
  • Diseño microelectrónico
Datos
Descripción
We are currently starting to witness the end of the CMOS era. Technology scaling has accomplished outstanding integration levels, for instance Intel has announced the construction of a 14 nm foundry that should be running in 2013. But we know that this...
Internacional
Si
DOI
Edición del Libro
Editorial del Libro
ISBN
978-0470900055
Serie
Título del Libro
Advanced Circuits for Emerging Technologies
Desde página
483
Hasta página
507
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: Pablo Ituero Herrero (UPM)
  • Autor: M. Luisa Lopez Vallejo (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Laboratorio de Sistemas Integrados (LSI)
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
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