Capítulo de libro:
Temperature Monitoring Issues in Nanometer CMOS Integrated Circuits
Temperature Monitoring Issues in Nanometer CMOS Integrated Circuits
Año:2012
Áreas de investigación
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Industria electrónica y electrotécnica, -
Diseño microelectrónico
Datos
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Descripción
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| We are currently starting to witness the end of the CMOS era. Technology scaling has accomplished outstanding integration levels, for instance Intel has announced the construction of a 14 nm foundry that should be running in 2013. But we know that this... | |
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Internacional
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Si |
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DOI
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Edición del Libro
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Editorial del Libro
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ISBN
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978-0470900055 |
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Serie
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Título del Libro
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Advanced Circuits for Emerging Technologies |
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Desde página
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483 |
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Hasta página
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507 |
Participantes
- Autor: Pablo Ituero Herrero (UPM)
- Autor: M. Luisa Lopez Vallejo (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Creador: Grupo de Investigación: Laboratorio de Sistemas Integrados (LSI)
- Departamento: Ingeniería Electrónica
S2i 2023 Observatorio de investigación @ UPM con la colaboración del Consejo Social UPM
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