Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
Did you validate your ontology? OOPS!
Año:2012
Áreas de investigación
  • Ciencias de la computación y tecnología informática
Datos
Descripción
The application of methodologies for building ontologies can improve ontology quality. However, such quality is not guaranteed because of the difficulties involved in ontology modelling. These difficulties are related to the inclusion of anomalies or bad practices within the ontology development. Sev-eral authors have provided lists of typical anomalies detected in ontologies dur-ing the last decade. In this context, our aim in this paper is to describe OOPS! (OntOlogy Pitfall Scanner!), a tool for detecting pitfalls in ontologies.
Internacional
Si
Nombre congreso
Demos and Poster Session at 9th Extended Semantic Web Conference (ESWC2012)
Tipo de participación
960
Lugar del congreso
Heraklion, Grecia
Revisores
Si
ISBN o ISSN
978-3-642-30284-8
DOI
Fecha inicio congreso
29/05/2012
Fecha fin congreso
29/05/2012
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Título de las actas
The Semantic Web: Research and Applications - 9th Extended Semantic Web Conference, ESWC 2012. Volume : 7295
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: Maria Poveda Villalon (UPM)
  • Autor: M. Carmen Suarez de Figueroa Baonza (UPM)
  • Autor: Asuncion de Maria Gomez Perez (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Ontology Engineering Group
  • Departamento: Inteligencia Artificial
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