Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
Study of First and Second Order Methods for Neural Network Characterization of Reflectarray Elements
Año:2012

Áreas de investigación
  • Ingeniería eléctrica, electrónica y automática

Datos
Descripción
Se caracterizar los elementos de los reflectarrays mediente redes neuronales
Internacional
Si
Nombre congreso
2012 IEEE AP-S/URSI International Symp.
Tipo de participación
960
Lugar del congreso
Chicago, Illinois, USA
Revisores
Si
ISBN o ISSN
978-1-4673-0460-3
DOI
Fecha inicio congreso
08/07/2012
Fecha fin congreso
14/07/2012
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Título de las actas
Proc. of the 2012 IEEE AP-S/URSI International Symp.

Esta actividad pertenece a memorias de investigación

Participantes
  • Autor: Pedro Robustillo bayón UNEX
  • Autor: Juan Zapata Ferrer UPM
  • Autor: Jesús Rubio Ruiz UPM

Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Electromagnetismo computacional aplicado a antenas y microondas (ECAM)
  • Departamento: Electromagnetismo y Teoría de Circuitos