Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
Micro-Raman spectroscopy of Si nanowires: influence of size
Año:2012
Áreas de investigación
  • Física,
  • Tecnología electrónica y de las comunicaciones
Datos
Descripción
Si Nanowires (NWs) were studied by Raman microspectroscopy. The Raman spectrum of the NWs reveals important thermal effects, which broaden and shift the one phonon Raman bands. The low thermal conductivity of the NWs and the low thermal dissipation are responsible for the temperature enhancement in the NW under the excitation with the laser beam. We have modeled, using finite element methods, the interaction between the laser beam and the NWs. The Raman spectrum of Si NWs is interpreted in terms of the temperature induced by the laser beam excitation, in correlation with finite element methods (fem) for studying the interaction between the laser beam and the NWs.
Internacional
Si
Nombre congreso
14th International Conference on Defects Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors
Tipo de participación
960
Lugar del congreso
Miyazaki, Japan
Revisores
Si
ISBN o ISSN
1662-9752
DOI
10.4028/www.scientific.net/MSF.725.255
Fecha inicio congreso
25/09/2011
Fecha fin congreso
29/09/2011
Desde la página
255
Hasta la página
258
Título de las actas
Materials Science Forum 725 http://www.scientific.net/MSF
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: J. Anaya (U. Valladolid)
  • Autor: C. Prieto (U. Valladolid)
  • Autor: A. Torres (U. Valladolid)
  • Autor: A. Martin-Martin (U. Valladolid)
  • Autor: J Souto (u. Valladolid)
  • Autor: J. Jiménez (U. Valladolid)
  • Autor: Andres Rodriguez Dominguez (UPM)
  • Autor: Tomas Rodriguez Rodriguez (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Conectividad
  • Departamento: Tecnología Electrónica
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