Memorias de investigación
Estancias o Sabáticos:
Variability on FInFET and planar technologies below 20nm
Año:2012
Áreas de investigación
  • Modelado eléctrico de circuitos integrados,
  • Herramientas de diseño de circuitos integrados
Datos
Descripción
First research stage on variability on FInFET and planar technologies below 20nm
Internacional
Si
Lugar
IMEC, Lovaina, Bélgica
Tipo
Miembros en el extranjero
Fecha inicio
01/01/2012
Fecha fin
31/03/2012
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: Pablo Royer Del Barrio UPM
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Laboratorio de Sistemas Integrados (LSI)
  • Departamento: Ingeniería Electrónica