Memorias de investigación
Stays or Sabbaticals:
Variability on FInFET and planar technologies below 20nm
Year:2012
Research Areas
  • Modelate electric of integrate circuit,
  • Tools of design of integrate circuits
Information
Abstract
First research stage on variability on FInFET and planar technologies below 20nm
International
Si
Place
IMEC, Lovaina, Bélgica
Type
Miembros en el extranjero
Start Date
01/01/2012
End Date
31/03/2012
Participants
  • Autor: Pablo Royer Del Barrio UPM
Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: Grupo de Investigación: Laboratorio de Sistemas Integrados (LSI)
  • Departamento: Ingeniería Electrónica