Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Patentes:
Método para obtener imágenes multiespectrales de reflectancia absoluta
Año:2013
Áreas de investigación
Datos
Descripción
Procedimiento para llevar a cabo medidas cuantitativas en diferentes bandas de interés mediante un microscopio óptico de reflexión (o de luz transmitida) modificado. Dichas medidas se realizan de forma automatizada gracias a la intervención de una unidad de control que se acopla con el microscopio modificado para asistir en la calibración del dispositivo. Adicionalmente, también lleva a cabo correcciones de las imágenes tomadas de acuerdo con la banda de interés para que cada nivel de gris se asocie con un nivel de reflectancia real de la muestra (o de transmitancia) para la que se ha tomado la imagen.
Internacional
No
Estado
Concedida
Referencia Patente Prioritaria
P201130499
En explotación
No
Licenciatarios
Fecha solicitud
31/03/2011
Titulares aparte de la UPM
AITEMIN - Asociación de Investigación y Desarroll;
Participantes
  • Inventor: Jose Antonio Espi Rodriguez (UPM)
  • Inventor: CAROLINA BEATRIZ BREA . (UPM)
  • Inventor: Laura Perez Barnuevo (UPM)
  • Inventor: Juan Carlos Catalina Hernánez (AITEMIN - Asociación de Investigación y Desarrollo Industrial de Recursos Naturales)
  • Inventor Contacto: Ricardo Castroviejo Bolibar (UPM)
  • Inventor: Fernando Segundo García (AITEMIN - Asociación de Investigación y Desarrollo Industrial de Recursos Naturales)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Grupo de Investigación: Recursos Minerales
  • Departamento: Ingeniería Geológica
S2i 2021 Observatorio de investigación @ UPM con la colaboración del Consejo Social UPM
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