Artículos en revistas:
Self-validating technique for the measurement of the linewidth enhancement factor in semiconductor lasers
Self-validating technique for the measurement of the linewidth enhancement factor in semiconductor lasers
Año:2012
Áreas de investigación
Datos
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Descripción
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Internacional
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Si |
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JCR del ISI
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Si |
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Título de la revista
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OPTICS EXPRESS |
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ISSN
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1094-4087 |
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Factor de impacto JCR
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3,749 |
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Información de impacto
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Volumen
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20 |
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DOI
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Número de revista
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5 |
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Desde la página
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4979 |
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Hasta la página
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4987 |
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Mes
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Ranking
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5/77 OPTICS (SCI) |
Participantes
- Autor:
antonio consoli (UPM) - Autor: borja bonilla (UPM)
- Autor: jose manuel g. tijero (UPM)
- Autor: ignacio esquivias (UPM)
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- Creador: No seleccionado
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