Capítulo de libro:
Temperature Monitoring Issues in Nanometer CMOS Integrated Circuits.
Temperature Monitoring Issues in Nanometer CMOS Integrated Circuits.
Año:2012
Áreas de investigación
-
Industria electrónica
Datos
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Descripción
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| Temperature Monitoring Issues in Nanometer CMOS Integrated Circuits. | |
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Internacional
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Si |
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DOI
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Edición del Libro
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Editorial del Libro
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Wiley |
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ISBN
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978-0-470-90005-5 |
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Serie
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Título del Libro
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Advanced Circuits for Emerging Technologies |
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Desde página
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483 |
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Hasta página
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507 |
Participantes
- Autor: Pablo Ituero Herrero (UPM)
- Autor: M. Luisa Lopez Vallejo (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Creador: Departamento: Ingeniería Electrónica
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