Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Capítulo de libro:
Temperature Monitoring Issues in Nanometer CMOS Integrated Circuits.
Año:2012
Áreas de investigación
  • Industria electrónica
Datos
Descripción
Temperature Monitoring Issues in Nanometer CMOS Integrated Circuits.
Internacional
Si
DOI
Edición del Libro
Editorial del Libro
Wiley
ISBN
978-0-470-90005-5
Serie
Título del Libro
Advanced Circuits for Emerging Technologies
Desde página
483
Hasta página
507
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: Pablo Ituero Herrero (UPM)
  • Autor: M. Luisa Lopez Vallejo (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Departamento: Ingeniería Electrónica
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