Artículos en revistas:
Effect of van der Waals interaction on the properties of SnS2 layered semiconductor
Año:2013
Áreas de investigación
Datos
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Descripción
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Internacional
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Si |
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JCR del ISI
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Si |
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Título de la revista
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THIN SOLID FILMS |
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ISSN
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0040-6090 |
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Factor de impacto JCR
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1,89 |
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Información de impacto
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Volumen
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535 |
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DOI
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10.1016/j.tsf.2012.11.112 |
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Número de revista
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Desde la página
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387 |
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Hasta la página
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389 |
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Mes
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Ranking
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Ver publicación en Archivo digital upm
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
- Autor: y. seminovski UPM
- Autor: p. palacios UPM
- Autor: p. wahnon UPM
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Creador: No seleccionado
- Centro o Instituto I+D+i: Instituto de Energía Solar
- Grupo de Investigación: Silicio y Nuevos Conceptos para Células Solares
- Departamento: Tecnologías Especiales Aplicadas a la Telecomunicación