Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Diamond underlayer microstructure effect on the orientation of AlN piezoelectric layers for high frequency SAW resonators by TEM
Año:2013
Áreas de investigación
  • Ingenierías,
  • Tecnología electrónica y de las comunicaciones
Datos
Descripción
Relacionado con líneas de investigación del GDS del ISOM http://www.isom.upm.es/dsemiconductores.php
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
MICROELECTRONIC ENGINEERING
ISSN
0167-9317
Factor de impacto JCR
1,557
Información de impacto
Volumen
112
DOI
10.1016/j.mee.2013.04.007
Número de revista
Desde la página
193
Hasta la página
197
Mes
SIN MES
Ranking
0
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: f. lloret
  • Autor: d. araujo
  • Autor: m. p. villar
  • Autor: Juan Rodriguez Madrid (UPM)
  • Autor: Gonzalo Fuentes Iriarte (UPM)
  • Autor: o. a. williams
  • Autor: Fernando Calle Gomez (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
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