Descripción
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Relacionado con líneas de investigación del GDS del ISOM http://www.isom.upm.es/dsemiconductores.php | |
Internacional
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Si |
JCR del ISI
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Si |
Título de la revista
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JOURNAL OF APPLIED PHYSICS |
ISSN
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0021-8979 |
Factor de impacto JCR
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2,168 |
Información de impacto
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Volumen
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113 |
DOI
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http://dx.doi.org/10.1063/1.4805054 |
Número de revista
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18 |
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