Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Software:
OOPS! - Ontology Pitfall Scanner
Año:2013
Áreas de investigación
Datos
Descripción
Herramienta orientada al a validación de ontologías. En concreto OOPS! permite analizar ontologías para detectar algunos de los errores que se suelen dar durante el desarrollo de ontologías. En este sentido OOPS! realiza un diagnóstico de la ontología de manera independiente al dominio o los requisitos modelados en la misma. A partir de dicho diagnóstico OOPS! genera una serie de notificaciones indicando en qué elementos se podrían estar cometiendo errores.
Internacional
Si
En explotación
No
Fecha de registro
20/12/2012
Número de registro
M-009445/2012
Titular/es
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Inventor Contacto: Asuncion de Maria Gomez Perez (UPM)
  • Inventor: Maria Poveda Villalon (UPM)
  • Inventor: M. Carmen Suarez de Figueroa Baonza (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: No seleccionado
  • Grupo de Investigación: Ontology Engineering Group
  • Departamento: Inteligencia Artificial
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