Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Uncertainty in ellipse fitting using a flatbed scanner: development and experimental verification
Año:2013
Áreas de investigación
  • Ingenierías
Datos
Descripción
In the field of dimensional metrolgy, the use of opticasl measuring machines requieres the handling of a large number of measurement points, or scanning points, taken from the image of the measurend
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
Measurement Science & Technology
ISSN
0957-0233
Factor de impacto JCR
1,435
Información de impacto
Volumen
DOI
Número de revista
25
Desde la página
1
Hasta la página
10
Mes
NOVIEMBRE
Ranking
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: Jesus de Vicente Y Oliva (UPM)
  • Autor: Angel M. Sanchez Perez (UPM)
  • Autor: M. Berzal
  • Autor: P. Manresca
  • Autor: E. Gómez
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Departamento: Física Aplicada a la Ingeniería Industrial
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