Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Preliminary temperature accelerated life test (ALT) on lattice mismatched triple-junction concentrator solar cells-on-carriers
Año:2014
Áreas de investigación
  • Ingeniería eléctrica, electrónica y automática,
  • Células solares,
  • Tecnología de dispositivos para ingeniería eléctrica y electrónica
Datos
Descripción
A temperature accelerated life test on concentrator lattice mismatched Ga0.37In0.63P/Ga0.83In0.17As/Ge triple-junction solar cells-on-carrier is being carried out. The solar cells have been tested at three different temperatures: 125, 145 and 165°C and the nominal photo-current condition (500X) is emulated by injecting current in darkness. The final objective of these tests is to evaluate the reliability, warranty period, and failure mechanism of these solar cells in a moderate period of time. Up to now only the test at 165°C has finished. Therefore, we cannot provide complete reliability information, but we have carried out preliminary data and failure analysis with the current results.
Internacional
Si
JCR del ISI
No
Título de la revista
AIP Conference Proceedings
ISSN
0094-243X
Factor de impacto JCR
Información de impacto
Volumen
1616
DOI
Número de revista
Desde la página
250
Hasta la página
253
Mes
SIN MES
Ranking
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: Vincenzo Orlando (UPM)
  • Autor: Pilar Espinet González (UPM)
  • Autor: Neftali Nuñez Mendoza (UPM)
  • Autor: F. Eltermann
  • Autor: Y. Contreras
  • Autor: Jesus Bautista Villares (UPM)
  • Autor: Manuel Vazquez Lopez (UPM)
  • Autor: A.W. Bett
  • Autor: Carlos Algora Del Valle (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Semiconductores III-V
  • Departamento: Electrónica Física
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto de Energía Solar
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