Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
TEM study of the AlN grain orientation grown on NCD diamond substrate
Año:2014
Áreas de investigación
  • Tecnología electrónica y de las comunicaciones,
  • Dispositivos electrónicos
Datos
Descripción
TEM study of the AlN grain orientation grown on NCD diamond substrate
Internacional
Si
Nombre congreso
EXMATEC 2014
Tipo de participación
960
Lugar del congreso
Dephi, Greece
Revisores
Si
ISBN o ISSN
0000000000000
DOI
Fecha inicio congreso
18/06/2014
Fecha fin congreso
20/06/2014
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10
Hasta la página
15
Título de las actas
EXMATEC 2014
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Departamento: Ciencia de Materiales
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ingeniería Electrónica