Ponencias en congresos:
Evolution of Radiation-Induced Soft Errors in FinFET SRAMs under Process Variations beyond 22nm
Evolution of Radiation-Induced Soft Errors in FinFET SRAMs under Process Variations beyond 22nm
Año:2015
Áreas de investigación
-
Verificación de circuitos integrados digitales
Datos
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Descripción
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Internacional
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Si |
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Nombre congreso
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NANOARCH 2015 |
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Tipo de participación
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970 |
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Lugar del congreso
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Revisores
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Si |
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ISBN o ISSN
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DOI
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Fecha inicio congreso
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Fecha fin congreso
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Título de las actas
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Participantes
- Autor: Pablo Royer Del Barrio (UPM)
- Autor: M. Luisa Lopez Vallejo (UPM)
- Autor: Fernando Garcia Redondo (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Creador: Departamento: Ingeniería Electrónica
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