Artículos en revistas:
A Tool for the Automatic Analysis of Single Events Effects on Electronic Circuits
A Tool for the Automatic Analysis of Single Events Effects on Electronic Circuits
Año:2014
Áreas de investigación
Datos
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Descripción
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Internacional
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JCR del ISI
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Título de la revista
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2014 5TH EUROPEAN WORKSHOP ON CMOS VARIABILITY (VARI) |
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ISSN
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Participantes
- Autor:
fernando garcia-redondo (UPM) - Autor: marisa lopez-vallejo (UPM)
- Autor: pablo royer (UPM)
- Autor: javier agustin (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Creador: No seleccionado
- Departamento: Ingeniería Electrónica
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