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Abstract
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| Visita guiada al Taboratorio de Caracterización Optica de Materiales: Obtención y análisis comparado de las curvas espectrales de diferentes fuentes luminosas(3 horas) | |
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International
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No |
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Congress
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VII Semana de la Ciencia Madrid 2007 |
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Entity
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DGUI-CAM UPM |
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Entity Nationality
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ETIOPIA |
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Place
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Escuela Universitaria de Ingeniería Técnica Industrial |
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Start Date
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13/11/2007 |
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End Date
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14/11/2007 |