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Descripción
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| Visita guiada al Taboratorio de Caracterización Optica de Materiales: Obtención y análisis comparado de las curvas espectrales de diferentes fuentes luminosas(3 horas) | |
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Internacional
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No |
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Nombre congreso
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VII Semana de la Ciencia Madrid 2007 |
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Entidad organizadora
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DGUI-CAM UPM |
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Nacionalidad Entidad
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ETIOPIA |
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Lugar/Ciudad de impartición
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Escuela Universitaria de Ingeniería Técnica Industrial |
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Fecha inicio
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13/11/2007 |
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Fecha fin
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14/11/2007 |