Artículos en revistas:
Distinguishing Cubic and Hexagonal phases within InGaN/GaN micro-structures using Electron Energy Loss Spectroscopy
Distinguishing Cubic and Hexagonal phases within InGaN/GaN micro-structures using Electron Energy Loss Spectroscopy
Año:2015
Áreas de investigación
-
Tecnología electrónica y de las comunicaciones, -
Ingeniería eléctrica, electrónica y automática
Datos
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Descripción
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| Relacionado con línea de investigación del GDS del ISOM | |
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Internacional
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Si |
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JCR del ISI
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Si |
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Título de la revista
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Journal of Microscopy |
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ISSN
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0022-2720 |
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Factor de impacto JCR
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2,15 |
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Información de impacto
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Volumen
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262(2) |
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DOI
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10.1111/jmi.12285 |
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Número de revista
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Desde la página
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167 |
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Hasta la página
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170 |
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Mes
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SIN MES |
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Ranking
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Participantes
- Autor: I. Griffiths
- Autor: Steven Albert . (UPM)
- Autor: Ana Mª Bengoechea Encabo (UPM)
- Autor: Miguel Angel Sanchez Garcia (UPM)
- Autor: Enrique Calleja Pardo (UPM)
- Autor: D. Cherns
- Autor: T. Schimpke
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
- Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
- Departamento: Ingeniería Electrónica
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