Memorias de investigación
Research Publications in journals:
Distinguishing Cubic and Hexagonal phases within InGaN/GaN micro-structures using Electron Energy Loss Spectroscopy
Year:2015
Research Areas
  • Electronic technology and of the communications,
  • Electric engineers, electronic and automatic (eil)
Information
Abstract
Relacionado con línea de investigación del GDS del ISOM
International
Si
JCR
Si
Title
Journal of Microscopy
ISBN
0022-2720
Impact factor JCR
2,15
Impact info
Volume
262(2)
10.1111/jmi.12285
Journal number
From page
167
To page
170
Month
SIN MES
Ranking
Participants
Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ingeniería Electrónica