Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Distinguishing Cubic and Hexagonal phases within InGaN/GaN micro-structures using Electron Energy Loss Spectroscopy
Año:2015
Áreas de investigación
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Tecnología electrónica y de las comunicaciones,
-
Ingeniería eléctrica, electrónica y automática
Datos
Descripción
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Relacionado con línea de investigación del GDS del ISOM
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Internacional
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Si |
JCR del ISI
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Si |
Título de la revista
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Journal of Microscopy |
ISSN
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0022-2720 |
Factor de impacto JCR
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2,15 |
Información de impacto
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Volumen
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262(2) |
DOI
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10.1111/jmi.12285 |
Número de revista
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Desde la página
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167 |
Hasta la página
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170 |
Mes
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SIN MES |
Ranking
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Esta actividad pertenece a memorias de
investigación
Participantes
- Autor: I. Griffiths
- Autor:
Steven Albert . (UPM) - Autor:
Ana Mª Bengoechea Encabo (UPM) - Autor:
Miguel Angel Sanchez Garcia (UPM) - Autor:
Enrique Calleja Pardo (UPM) - Autor: D. Cherns
- Autor: T. Schimpke
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
- Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
- Departamento: Ingeniería Electrónica