Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Distinguishing Cubic and Hexagonal phases within InGaN/GaN micro-structures using Electron Energy Loss Spectroscopy
Año:2015

Áreas de investigación
  • Tecnología electrónica y de las comunicaciones,
  • Ingeniería eléctrica, electrónica y automática

Datos
Descripción
Relacionado con línea de investigación del GDS del ISOM
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
Journal of Microscopy
ISSN
0022-2720
Factor de impacto JCR
2,15
Información de impacto
Volumen
262(2)
DOI
10.1111/jmi.12285
Número de revista
Desde la página
167
Hasta la página
170
Mes
SIN MES
Ranking

Esta actividad pertenece a memorias de investigación

Participantes

Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ingeniería Electrónica