Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
Analysis of Sb and In distribution in GaAsSb-capped InAs quantum dots by advance transmission electron microscopy
Año:2015
Áreas de investigación
  • Tecnología electrónica y de las comunicaciones,
  • Ingeniería eléctrica, electrónica y automática
Datos
Descripción
Relacionado con Línea de Investigación del GDS del ISOM
Internacional
Si
Nombre congreso
Microscopy of Semiconducting Materials
Tipo de participación
960
Lugar del congreso
Cambridge (UK)
Revisores
Si
ISBN o ISSN
0000000000000
DOI
Fecha inicio congreso
29/03/2015
Fecha fin congreso
02/04/2015
Desde la página
0
Hasta la página
3
Título de las actas
Proceedings
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: DF Reyes
  • Autor: Jose Maria Ulloa Herrero (UPM)
  • Autor: Alvaro de Guzman Fernandez Gonzalez (UPM)
  • Autor: Adrian Hierro Cano (UPM)
  • Autor: DL Sales
  • Autor: R. Beanland
  • Autor: A.M. Sanchez
  • Autor: D. González
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ciencia de Materiales
S2i 2021 Observatorio de investigación @ UPM con la colaboración del Consejo Social UPM
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNCIDE 2011 (OTR-2011-0236)
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNPACTO (IPT-020000-2010-22)