Descripción
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Relacionado con Línea de Investigación del GDS del ISOM | |
Internacional
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Si |
Nombre congreso
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Microscopy of Semiconducting Materials |
Tipo de participación
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960 |
Lugar del congreso
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Cambridge (UK) |
Revisores
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Si |
ISBN o ISSN
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0000000000000 |
DOI
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Fecha inicio congreso
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29/03/2015 |
Fecha fin congreso
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02/04/2015 |
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3 |
Título de las actas
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Proceedings |