Memorias de investigación
Communications at congresses:
Analysis of Sb and In distribution in GaAsSb-capped InAs quantum dots by advance transmission electron microscopy
Year:2015
Research Areas
  • Electronic technology and of the communications,
  • Electric engineers, electronic and automatic (eil)
Information
Abstract
Relacionado con Línea de Investigación del GDS del ISOM
International
Si
Congress
Microscopy of Semiconducting Materials
960
Place
Cambridge (UK)
Reviewers
Si
ISBN/ISSN
0000000000000
Start Date
29/03/2015
End Date
02/04/2015
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0
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3
Proceedings
Participants
Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ciencia de Materiales