Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
(S)TEM Analysis of the Strain and Morphology of InAs Quantum Dots using GaAs(Sb)(N) capping layers for Solar Cell Applications
Año:2015
Áreas de investigación
  • Ingenierías,
  • Tecnología electrónica y de las comunicaciones,
  • Ingeniería eléctrica, electrónica y automática
Datos
Descripción
Relacionado con línea de investigación del GDS DEL ISOM
Internacional
Si
Nombre congreso
MSF2015- Microscopy at the Frontiers of Science
Tipo de participación
960
Lugar del congreso
Porto (Portugal)
Revisores
Si
ISBN o ISSN
0000000000000
DOI
Fecha inicio congreso
09/09/2015
Fecha fin congreso
11/09/2015
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Título de las actas
Proceedings
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: DF. Reyes
  • Autor: Antonio David Utrilla Lomas UPM
  • Autor: T. Ben
  • Autor: JJ Saborido
  • Autor: Jose Maria Ulloa Herrero UPM
  • Autor: G. Bárcena-Gonzáez
  • Autor: D. González
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
  • Departamento: Ciencia de Materiales