Artículos en revistas:
Design and Characterization of a Built-In CMOS TID Smart Sensor
Design and Characterization of a Built-In CMOS TID Smart Sensor
Año:2015
Áreas de investigación
Datos
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Descripción
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Internacional
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Si |
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JCR del ISI
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Si |
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Título de la revista
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IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE |
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ISSN
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0018-9499 |
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Factor de impacto JCR
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1,455 |
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Información de impacto
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Volumen
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62 |
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DOI
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10.1109/TNS.2015.2404532 |
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Número de revista
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2 |
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Desde la página
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443 |
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Hasta la página
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450 |
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Mes
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Ranking
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0 |
Participantes
- Autor:
javier agustin (UPM) - Autor: carlos gil (UPM)
- Autor: marisa lopez-vallejo (UPM)
- Autor: pablo ituero (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Creador: No seleccionado
- Grupo de Investigación: Laboratorio de Sistemas Integrados (LSI)
- Departamento: Ingeniería Electrónica
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