Observatorio de I+D+i UPM

Descripción
Process, voltage and temperature (PVT) variations seriously affect the performance of nanometer scale circuits. In this talk we present how current electronic circuits can dynamically adapt to this varying environment based on the use of small embedded monitoring cirtuits.
Internacional	Si
Nombre congreso	Ultra low power circuits seminar series
Entidad organizadora	MIT
Nacionalidad Entidad	E.E.U.U. DE AMERICA
Lugar/Ciudad de impartición	Cambridge, Massachusetts, EEUU
Fecha inicio	02/10/2015
Fecha fin	02/10/2015

Esta actividad pertenece a memorias de investigación

• Autor: M. Luisa Lopez Vallejo (UPM)

• Creador: Grupo de Investigación: Laboratorio de Sistemas Integrados (LSI)
• Departamento: Ingeniería Electrónica