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Descripción
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| La presente invención se refiere a un dispositivo para medir el espesor de acristalamiento que permite medir el espesor de acristalamientos instalados en carpinterías, independientemente de las capas que dicho acristalamiento comprenda, y sin necesidad de que el acristalamiento tenga que ser desmontado para realizar la medición de su espesor.Es decir, la invención puede ser utilizada tanto en el caso de vidrios simples como en el caso de vidrios compuestos, permitiendo medir incluso el espesor de las cámaras de aislamiento intermedias, formadas con aire o líquido. La invención tiene aplicación en la industria de la edificación, y más concretamente en el ámbito de la peritación de acristalamientos en edificios. | |
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Internacional
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No |
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Estado
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Concedida |
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Referencia Patente Prioritaria
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P201531670 |
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En explotación
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No |
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Licenciatarios
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Fecha solicitud
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19/11/2015 |
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Titulares aparte de la UPM
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