Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Patentes:
Dispositivo para medir el espesor de acristalamientos montados en carpinterías
Año:2016
Áreas de investigación
Datos
Descripción
La presente invención se refiere a un dispositivo para medir el espesor de acristalamiento que permite medir el espesor de acristalamientos instalados en carpinterías, independientemente de las capas que dicho acristalamiento comprenda, y sin necesidad de que el acristalamiento tenga que ser desmontado para realizar la medición de su espesor.Es decir, la invención puede ser utilizada tanto en el caso de vidrios simples como en el caso de vidrios compuestos, permitiendo medir incluso el espesor de las cámaras de aislamiento intermedias, formadas con aire o líquido. La invención tiene aplicación en la industria de la edificación, y más concretamente en el ámbito de la peritación de acristalamientos en edificios.
Internacional
No
Estado
Concedida
Referencia Patente Prioritaria
P201531670
En explotación
No
Licenciatarios
Fecha solicitud
19/11/2015
Titulares aparte de la UPM
Participantes
  • Inventor: Fidel Carrasco Andres (UPM)
  • Inventor: Daniel . (UPM)
  • Inventor Contacto: Tomas Gil Lopez (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Grupo de Investigación: Grupo de Investigación en Ingeniería Marítima y Portuaria
  • Departamento: Tecnología de la Edificación
S2i 2021 Observatorio de investigación @ UPM con la colaboración del Consejo Social UPM
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNCIDE 2011 (OTR-2011-0236)
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNPACTO (IPT-020000-2010-22)